[1]
Н. Супруновська і Д. Вінниченко, «ВПЛИВ ВЕЛИЧИНИ ЄМНОСТІ ПОСЛІДОВНОГО РЕЗОНАНСНОГО КОНТУРУ НА ПОТУЖНІСТЬ ЕЛЕКТРОТЕХНІЧНИХ СИСТЕМ РЕЗОНАНСНОГО ТИПУ ДЛЯ МОНІТОРИНГУ ІЗОЛЯЦІЇ ВИСОКОВОЛЬТНОГО ОБЛАДНАННЯ», techned, вип. 4, с. 003, Лип 2024.