ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Е.А.  Ермоленко; А.Ф.  Бондаренко; А.Н.  Баранов

№ 3 (2012), Інформаційно-вимірювальні системи в електроенергетиці

№ 3 (2012)

Інформаційно-вимірювальні системи в електроенергетиці

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Опубліковано 2012-04-05

Е.А. Ермоленко ⁺⁻
А.Ф. Бондаренко ⁺⁻
А.Н. Баранов⁺⁻

Е.А. Ермоленко

Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина

А.Ф. Бондаренко

Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина

А.Н. Баранов

Донбасский государственный технический университет, пр. Ленина, 16, г. Алчевск, 94204, Украина

ARTICLE_61_PDF

Ключові слова

semiconductor device
thermal model
current-voltage characteristic
adaptive pulse measurement method полупроводниковый прибор
тепловая модель
вольт-амперная характеристика
, адаптивный импульсный способ измерения

Як цитувати

[1]

Ермоленко , Е. , Бондаренко , А. і Баранов, А. 2012. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИМПУЛЬСНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ АДАПТИВНОГО СПОСОБА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ . ТЕХНІЧНА ЕЛЕКТРОДИНАМІКА. 3 (Квіт 2012), 127.

Анотація

Для реализации адаптивного импульсного способа измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов получена математическая зависимость длительности пауз, которые следуют за измерительными импульсами, от мощности и длительности этих импульсов. Использование полученного математического выражения при формировании параметров импульсной последовательности позволяет уменьшить накопление тепла в структуре полупроводникового прибора в процессе измерения вольт-амперной характеристики, что способствует повышению точности измерения. Библ. 2, рис. 2.

ARTICLE_61_PDF

Посилання

Bondarenko A.F., Yermolenko Ye.A. The method of automatic measurement of current-voltage characteristics of semiconductor devices // Tekhnichna elektrodynamika. Tematychnyi vypusk "Problemy suchasnoi elektrotekhniky". - 2010. - Vol. 2.-Pp. 126-129. (Rus)

Davidov P.D. Analysis and calculation of thermal modes of semiconductor devices. — Moskva: Enerhiia. 1967. - 144 p. (Rus)