Анотація
Разработана математическая модель для численного анализа возмущения внешнего низкочастотного электрического поля (ЭП) в диэлектрическом промежутке между двумя близко расположенными вдоль поля проводящими включениями, расстояние между которыми меньше их размеров. Показано, что с уменьшением промежутка между поверхностями таких включений напряженность электрического поля в нем возрастает по закону степенной функции. Также показано, что при неизменных размерах проводящих включений в направлении поля степень усиления поля в диэлектрическом промежутке повышается с уменьшением расстояния между ними и увеличением кривизны их поверхностей. Проведенные расчеты подтвердили, что при сближении цилиндрических, сферических и эллипсоидальных включений степень усиления поля между последними будет наибольшей, а между первыми – наименьшей. Библ. 8, рис. 5.
Посилання
Demirchian K.S., Neiman L.R., Korovkin N.V, Chechurin V.L. Theoretical grounds of electrical engineering. Vol. 3. - Sankt Peterburg: Piter, 2003. - 377 p. (Rus.)
Landau L.D., Lifshits E.M. Electrodynamics of continuum. - Moskva: Nauka, 1980. - 560 p. (Rus.)
Nikolskii V.V. Electromagnetic field theory. - Moskva: Vysshaia slikola, 1964. - 384 p. (Rus.)
Technique and electrophysics of high voltage / Za redaktsieiu V.O. Brzhezickogo ta V.M. Mikhailova. - Kharkiv: Tornado, 2005.-930 p. (Ukr.)
Shidlovskii A.K., Shcherba A.A., Zolotarev V.M., Peretiatko Yu.V. Analysis of electric field microinhomogenety as a factor of threshold electrophysical processes intensity increasing in polymeric insulation of high voltage cables and self-bearing insulated wires // Tekhnichna elektrodynamika. - 2008. - № 4. - P. 3-14. (Rus.)
Shcherba M.A. Lows of local tensed volume changing in dielectric with distance changing between conducting microinclusions of different configurations. // Dopovidi za materialamy ISTC "Suchasni problemy elektroenergotekhniky ta avtomatyky". - Kyiv: Politekhnika, 2010. - Pp. 254 - 257. (Rus.)
Shcherba A.A., Shcherba M.A. Modeling and analysis of electric field in dielectric medium, disturbed by conducting microinclusions of different sizes and forms // Tekhnichna elektrodynamika. - 2009. - № 6. - C. 3-9.
Comsol Multiphysics 3.5. User’s Guide and introduction. — Comsol. Inc. - www.comsol.com
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Авторське право (c) 2023 Array